Category:Secondary ion mass spectrometry

Spettrometria di massa di ioni secondari (it); 二次イオン質量分析法 (ja); Espectrometria de massa (pt-br); Spectrométrie de masse à ionisation secondaire (fr); Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů (cs); Sekundär-Ione-Massen-Spektroskopie (stq); Масс-спектрометрия вторичных ионов (ru); 二次离子质谱 (zh-cn); Sekundärionen-Massenspektrometrie (de); espectrometria de massa por íons secundários (pt); Secondary ion mass spectrometry (en); طیف‌سنجی جرم یون ثانویه (fa); 二次離子質譜 (zh); Sekondêre-Ioane-Massa-Spektroskopy (fy) surface chemical analysis and imaging method (en) Spettrometria di massa a ioni secondari, Tecnica SIMS, Secondary ion mass spectrometry, Spettrometria di massa SIMS, SIMS, Spettrometria SIMS (it); 二次イオン質量分析, SIMS (ja); Spectrometrie de masse a ionisation secondaire, SIMS (fr); SIMS (pt); Secondary ion mass spectrometry, SIMS, Hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (cs); Sekundärionenmassenspektrometrie, Sekundär-Ionen-Massen-Spektrometrie, Sekundärionenmassenspektrometer, Sekundärionen-Massenspektroskopie (de); SIMS (stq); SIMS, secondary-ion mass spectrometry, Secondary-Ion Mass Spectrometry (en); تکنیک طیف سنجی جرم یون ثانویه، سیمس (fa); 二次離子質譜法 (zh); Sekundêre-Ioane-Massa-Spektroskopy (fy)