Category:Semiconductors
Jump to navigation
Jump to search
 | This is a main category requiring frequent diffusion and maybe maintenance. As many pictures and media files as possible should be moved into appropriate subcategories. |
Deutsch: Halbleiter
· English: Semiconductor
· Français : Semi-conducteur
· Nederlands: Halfgeleider
· material that has electrical conductivity intermediate to that of a conductor and an insulator  | |||||
| Upload media | |||||
| Subclass of | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Part of |
| ||||
| Has part(s) |
| ||||
| |||||
 | |||||
English: Semiconductors are materials whose electronic properties can be controlled by adding small amounts of impurities to them.
Mga ubos-nga-kaarangay
Ini nga kaarangay mayda han mga nasunod nga 26 nga mga ubos-nga-kaarangay, tikang hin 26 nga kabug-osan.
*
A
B
- Semiconductor business (10 F)
C
- Semiconductor curve tracer (5 F)
D
- Semiconductor layer diagrams (77 F)
G
H
- Haynes–Shockley experiment (1 F)
- High density integration (7 F)
I
P
S
T
Media ha kaarangay nga "Semiconductors"
An mga nasunod nga 200 ka mga fayl aada han hini nga kaarangay, tikang hin 202 nga kabug-osan.
(nahiuna nga pakli) (masunod nga pakli)-
16321 RCA semiconductor.jpg 2,278 × 2,505; 513 nga KB
-
16323 RCA semiconductor.jpg 2,515 × 2,089; 473 nga KB
-
17413A RCA semiconductor.jpg 2,294 × 1,920; 398 nga KB
-
18pml015 clock-chip-with-coffee-bean 2mb.jpg 1,481 × 1,204; 116 nga KB
-
28 nm pitch aggressive multipatterning.png 869 × 552; 7 nga KB
-
29йцуке.JPG 276 × 172; 4 nga KB
-
2D device.PNG 936 × 609; 17 nga KB
-
3D NAND minimum cost example.png 704 × 361; 10 nga KB
-
3D NASA 1.jpg 526 × 403; 38 nga KB
-
3D NASA 2.jpg 539 × 464; 43 nga KB
-
3D NASA 3.jpg 525 × 411; 35 nga KB
-
3DS die stacking concept model (DE).png 1,048 × 378; 27 nga KB
-
3DS die stacking concept model.PNG 1,000 × 440; 65 nga KB
-
56 nm hp polarized image.PNG 567 × 337; 13 nga KB
-
Absorption Edge in Semiconductors.png 5,515 × 2,231; 379 nga KB
-
Afmfig3.jpg 303 × 265; 22 nga KB
-
Afmpiezofig1.jpg 353 × 380; 15 nga KB
-
Afvlakcondensator.png 406 × 100; 508 nga B
-
Aldalox.jpg 1,346 × 1,045; 298 nga KB
-
AM band NPN Audion.gif 284 × 232; 5 nga KB
-
Analyse edx.svg 328 × 372; 17 nga KB
-
ARTTS-Kamera.JPG 2,012 × 2,592; 981 nga KB
-
Asdfffff gg.jpg 257 × 175; 18 nga KB
-
Aufbau CMOS-Chip 2000er.svg 550 × 810; 84 nga KB
-
B-ad-bcbprocessflow.png 635 × 850; 27 nga KB
-
B-ad-crosssectionbcb.png 3,476 × 2,805; 1.45 nga MB
-
B-ad-semphotoofsu8.png 2,546 × 1,995; 796 nga KB
-
B-e-crosssectionsemofbondinginterface.png 1,694 × 1,153; 1.12 nga MB
-
B-e-ultrasonicimage.png 227 × 230; 56 nga KB
-
B-e-ultrasonicimageofblankeutecticwafer.png 373 × 379; 94 nga KB
-
B-gf-crosssectionsembosch.png 1,511 × 1,182; 262 nga KB
-
B-gf-crosssectionsemizm.png 1,501 × 1,164; 285 nga KB
-
B-tc-tisibondinginterface.png 1,781 × 1,388; 250 nga KB
-
Backring stress 01.JPG 313 × 409; 10 nga KB
-
Beyond CMOS IRDS.jpg 405 × 248; 27 nga KB
-
C-tlm fit.png 810 × 626; 37 nga KB
-
Canti lever fig 01.JPG 475 × 413; 12 nga KB
-
Canti lever type.jpg 396 × 219; 12 nga KB
-
Caratteristica.diodo.ideale.png 438 × 200; 4 nga KB
-
CdSeNanoplatelets.jpg 2,362 × 2,584; 679 nga KB
-
ChipScaleClock2 HR.jpg 1,465 × 1,449; 1.29 nga MB
-
Clapp Osz JFET Drain.gif 258 × 192; 4 nga KB
-
Cmos-chip structure in 2000s (en).svg 550 × 810; 138 nga KB
-
Cmut.jpg 1,231 × 297; 26 nga KB
-
Comparacion tension.png 453 × 350; 33 nga KB
-
Comparación de distintos semiconductores.png 347 × 285; 30 nga KB
-
Contactvsnon.jpg 1,181 × 500; 147 nga KB
-
Cross-section of MOSFET in IC.png 1,173 × 1,574; 258 nga KB
-
Ctlm individiual measurements.png 385 × 327; 20 nga KB
-
Cu vaheühendused ja madal-k dielektrik nende vahel.png 566 × 754; 381 nga KB
-
Dc hoogfrequent.png 377 × 149; 908 nga B
-
Deep and Shallow SR profiles portrait.jpg 3,600 × 1,915; 240 nga KB
-
Depletion-load NMOS logic (NOT).png 503 × 639; 13 nga KB
-
Depletion-Region.png 396 × 201; 46 nga KB
-
Diagram of a shockley diode.png 640 × 183; 14 nga KB
-
Dimensioni minime Moore.jpg 380 × 289; 10 nga KB
-
Diode-water-model.svg 594 × 399; 39 nga KB
-
DUV vs EUV line edge variability.png 1,126 × 236; 55 nga KB
-
Early LED Patents.png 1,742 × 625; 407 nga KB
-
Electron Transport under Multiple Trapping and Release.png 3,997 × 2,294; 144 nga KB
-
Electronic-collection hg.jpg 4,657 × 3,118; 3.02 nga MB
-
Energy diagram of a LET.jpg 826 × 1,065; 137 nga KB
-
Energy-level diagram in a molecular semiconductor.tif 801 × 970; 27 nga KB
-
Enhancement-load NMOS logic (NOT).png 498 × 631; 13 nga KB
-
Ersatzschema thyristortetrode.png 247 × 156; 1 nga KB
-
ESS 2 B.jpg 601 × 441; 87 nga KB
-
EUV 2D edge stochastic variability.png 564 × 274; 272 nga KB
-
EUV contact-to-contact area variation.png 767 × 481; 49 nga KB
-
EUV stochastic EPE.png 559 × 288; 17 nga KB
-
Evolution of Photoconductance in TRMC Experiment.png 6,545 × 4,977; 560 nga KB
-
Exotic semiconductors - Deutsches Museum - Munich.jpg 2,304 × 3,072; 3.82 nga MB
-
FAMOS esq.png 1,007 × 767; 24 nga KB
-
FET cross section.png 450 × 389; 12 nga KB
-
Fig1a.b.c.jpg 592 × 192; 24 nga KB
-
Fotodiode.png 1,085 × 908; 11 nga KB
-
Four possible kinds of active electronic devices.tif 1,831 × 1,004; 450 nga KB
-
FOWLP type.png 1,874 × 1,412; 181 nga KB
-
Fram-ferroe-electric-capacitor.png 483 × 184; 23 nga KB
-
FRAM-in-magnetic-field.png 695 × 553; 32 nga KB
-
Gap silicio.jpg 812 × 250; 13 nga KB
-
Grenzlastintegral.png 750 × 963; 237 nga KB
-
Halbleitermaterialien aus DAHQ.svg 585 × 91; 50 nga KB
-
Halbleiterspeicher-klassifizierung.svg 640 × 165; 76 nga KB
-
High Bandwidth Memory schematic (zh-CN).svg 512 × 288; 29 nga KB
-
High Bandwidth Memory schematic.svg 960 × 540; 47 nga KB
-
Hiroshi Amano.jpg 1,024 × 683; 65 nga KB
-
ILD(2).jpg 218 × 185; 29 nga KB
-
INTERRUPTOR UNILATERAL DE SILICIO 3-3.jpg 1,816 × 676; 210 nga KB
-
INTERRUPTOR UNILATERAL DE SILICIO 3-4.jpg 1,012 × 847; 107 nga KB
-
InvenSense NasiriFabrication WithText.png 448 × 246; 58 nga KB
-
Kishore.png 840 × 861; 310 nga KB
-
Krysztalek 0211.jpg 718 × 1,311; 231 nga KB
-
LED light emission cones from 2D plane emission zone.png 2,048 × 1,840; 1.2 nga MB
-
Linear enhancement-load NMOS logic (NOT).png 527 × 653; 16 nga KB
-
Mace mechanism.png 1,883 × 947; 118 nga KB
-
Mace mechanism.svg 1,300 × 650; 11 nga KB
-
Magnetic Semiconductor (5888009339).jpg 926 × 685; 415 nga KB
-
MBshift for wiki.jpg 873 × 405; 39 nga KB
-
Mediumwave FET Audion.gif 313 × 224; 6 nga KB
-
Metal Oxide TFT Cross Section.png 1,440 × 1,020; 47 nga KB
-
MIOS esq.png 1,007 × 767; 22 nga KB
-
Miroirs de Bragg.jpg 551 × 425; 17 nga KB
-
Mobility Edge.png 3,191 × 1,934; 107 nga KB
-
Moores law (1970-2011).PNG 760 × 710; 99 nga KB
-
MOSAID 1M DRAM report.jpg 1,458 × 734; 612 nga KB
-
Mosfet iamion.GIF 318 × 355; 3 nga KB
-
Mounted wafer.jpg 320 × 270; 42 nga KB
-
Multi point 01.JPG 341 × 320; 12 nga KB
-
NvSRAM-SONOS-technology.png 840 × 569; 78 nga KB
-
OnSemi Micro8.wrl.stl 5,120 × 2,880; 69 nga KB
-
P300J Wafer Probe Station.tif 3,264 × 2,448; 35.82 nga MB
-
Pcafmassemb.jpg 255 × 270; 21 nga KB
-
PCM-cell.jpg 794 × 441; 40 nga KB
-
Peltz oscillator pnp.png 214 × 170; 3 nga KB
-
Periodic table metalloids.jpg 4,500 × 1,396; 953 nga KB
-
Pixel ginz pn II.jpg 572 × 310; 17 nga KB
-
Pixel ginz pn.jpg 662 × 234; 18 nga KB
-
Planaarne wikile.png 1,000 × 750; 26 nga KB
-
Planaarne wikile1.png 1,000 × 750; 31 nga KB
-
PMD Image GreyScale.jpg 337 × 264; 10 nga KB
-
PMD Imager.jpg 1,582 × 1,040; 179 nga KB
-
Pn Junction Diffusion and Drift-tr.svg 375 × 250; 19 nga KB
-
Polythiophenes fluorescence NMR tube.jpg 640 × 480; 66 nga KB
-
Predeposizione.jpg 589 × 250; 16 nga KB
-
President Biden Joins the Virtual CEO Summit on Semiconductor and Supply Chain Resilience.webm 5 min 30 s, 1,920 × 1,080; 240.87 nga MB
-
Principe FIB-en.svg 833 × 471; 4 nga KB
-
Principe FIB-ru.svg 833 × 471; 4 nga KB
-
Principe FIB.jpg 411 × 289; 18 nga KB
-
Probecard 02.jpg 672 × 1,031; 101 nga KB
-
Psychedelic Photovoltaic Cell.jpg 1,458 × 1,091; 309 nga KB
-
Pulse-compression-NLTL-chip.jpg 600 × 470; 59 nga KB
-
PXE1.jpg 2,749 × 3,024; 2.04 nga MB
-
RadarGraphic.jpg 4,032 × 3,024; 327 nga KB
-
Rochester Electronics Map.jpeg 5,334 × 3,501; 6.1 nga MB
-
S-MOS Systems ASIC SLA6140.jpg 2,409 × 2,445; 7.17 nga MB
-
SAMOS esq.png 1,007 × 767; 25 nga KB
-
Saturated enhancement-load NMOS logic (NOT).png 498 × 631; 13 nga KB
-
Seiler Osz npn Base.gif 238 × 227; 5 nga KB
-
Semiconductor outlines.jpg 648 × 739; 201 nga KB
-
Semiconductor shipment chart 1985-2007.PNG 1,370 × 450; 93 nga KB
-
Semiconductor shipment chart 1985-2007.svg 880 × 300; 37 nga KB
-
Semiconductor-1.jpg 400 × 236; 20 nga KB
-
Semiconductor-conductivity.jpg 1,663 × 1,796; 426 nga KB
-
SemiconductorRoadmap.PNG 1,150 × 787; 157 nga KB
-
Semiconductors (way of working).jpg 720 × 840; 79 nga KB
-
Semiconductors dspositives.png 590 × 212; 87 nga KB
-
Semiconductors explanation.JPG 730 × 356; 61 nga KB
-
Semiconductors Icon.svg 48 × 48; 16 nga KB
-
SH323SC semiconductor.jpg 2,647 × 2,199; 507 nga KB
-
ShockleyBldg (cropped).jpg 290 × 243; 56 nga KB
-
ShockleyBldg.jpg 481 × 648; 103 nga KB
-
ShockleyVacant.jpg 1,200 × 800; 280 nga KB
-
Silicon die.jpg 2,304 × 1,728; 206 nga KB
-
Silky semiconductor.jpg 1,388 × 1,040; 340 nga KB
-
Silver Migration short 1.jpg 700 × 622; 47 nga KB
-
Silver Migration short 2.jpg 527 × 482; 19 nga KB
-
Simsni.gif 640 × 294; 3 nga KB
-
SMD Tipos de Tamanos.jpg 680 × 426; 86 nga KB
-
Soft lithography proc 1.jpg 570 × 331; 23 nga KB
-
Soft lithography proc 2.jpg 575 × 323; 22 nga KB
-
Soft lithography proc 3.jpg 600 × 600; 37 nga KB
-
Soft lithography proc 3.svg 545 × 588; 8 nga KB
-
Soft lithography proc1.svg 600 × 335; 3 nga KB
-
Soft lithography proc2.svg 600 × 335; 4 nga KB
-
Solargif1.gif 715 × 599; 77 nga KB
-
Sonda scyntylacyjna.jpg 692 × 325; 22 nga KB
-
Source-coupled oscillator.png 246 × 162; 4 nga KB
-
SP1446 Motorola semiconductor.jpg 2,051 × 2,199; 422 nga KB
-
ST3v3.2 bottom.jpg 3,504 × 2,336; 2.86 nga MB
-
ST3v3.2 enclosure.jpg 2,574 × 2,336; 1.67 nga MB
-
Stepper.gif 320 × 267; 77 nga KB
-
Strati di nitruro ossido e silicio.jpg 530 × 266; 11 nga KB
-
Structural periodicity of semiconductors.tif 2,546 × 717; 223 nga KB
-
Structure of Sb2Se3.jpg 2,978 × 1,849; 587 nga KB
-
Sus controlando SCR.jpg 1,576 × 888; 106 nga KB
-
T484 semiconductor.jpg 2,663 × 1,909; 419 nga KB
-
Test cell 01.JPG 1,058 × 488; 55 nga KB
-
The structure of SBQWRTT.tif 1,877 × 2,191; 13 nga KB
-
Time Resolved Microwave Conductivity System.png 2,234 × 1,513; 99 nga KB
-
Transistor de aleación - Alloy pnp.png 1,007 × 767; 89 nga KB
-
TrioScan1a.jpg 582 × 202; 24 nga KB
-
TrioScan4a.jpg 615 × 290; 45 nga KB
-
Tungsten carbide.jpg 1,200 × 500; 96 nga KB
-
Vackar-oscillator.gif 304 × 143; 4 nga KB
-
Vayyar.jpg 2,497 × 2,350; 651 nga KB
-
Vertical type.jpg 432 × 203; 12 nga KB
-
Vg vs. source-drain conductance.jpg 321 × 292; 9 nga KB
-
Virata timeline.jpg 821 × 422; 44 nga KB
-
Wafer prober.jpg 1,333 × 548; 59 nga KB
-
Wafer300mm-LargeIC-testset.jpg 4,320 × 3,240; 3.38 nga MB
-
Wien filter.jpg 300 × 302; 15 nga KB
-
Wireless TSV (coils 1).PNG 400 × 760; 33 nga KB
-
Wireless TSV (coils 2).PNG 500 × 650; 41 nga KB
-
Wright.Etch.Fig2a.b.c.jpg 624 × 303; 31 nga KB
-
Wright.Etch.Fig3a.b.c.jpg 627 × 246; 18 nga KB
-
Wright.Etch.Fig4a.b.c.jpg 634 × 304; 46 nga KB
-
Wytwarzanie elektretow.png 916 × 517; 29 nga KB
-
XRL Currents.svg 655 × 665; 8 nga KB
-
Xrl currents3.gif 653 × 664; 12 nga KB
-
Полупроводниковый детектор Пикарда, 1906.PNG 590 × 345; 42 nga KB
.png){kind=small}
.svg)
.png)
.png)
.svg)
.jpg)
.png)
.jpg)
.PNG)
.png)
.jpg)
.jpg)
.PNG)
.PNG)
