File:Külgvaade lamellist.jpg

From Wikimedia Commons, the free media repository
Jump to navigation Jump to search

Original file(1,024 × 883 pixels, file size: 236 KB, MIME type: image/jpeg)

Captions

Captions

Add a one-line explanation of what this file represents

Summary[edit]

Description
Eesti: Antud pildil on näha vaheetappi läbivalgustava elektronmikroskoobi proovi valmistamisest. Vaatlemaks objekte läbivalgustava elektronmikroskoobi all, peab vaadeldav objekt olema paarikümne nanomeetri paksune. Selle saavutamiseks lõigatakse esmalt uuritavast objektist ioonkiire abil välja paari mikromeetri paksune ja paarikümne mikromeetri laiune lamell. See lamell kinnitatakse imepisikese "nõela" otsa, lõigatakse aluse küljest lahti ning liigutatakse siis vaskalusele, mille külge kinnitatakse see sadestades plaatinakontaktid (pildil nähtavad "lainelised" ruudud) vaskaluse ning proovi vahele.

Antud pildil on näha viimane etapp proovi ettevalmistusest - lamelli poleerimine/õhemaks lõikamine. Saavutamaks läbivalgustavas mikroskoobis vaadeldav lamell õhendatakse seda alguses mõne mikromeetri ning lõpuks paari nanomeetri kaupa, alandades lõikava ioonkiire pinget ja voolutugevust, kuni algsest välja lõigatud mõne mikromeetri paksusest tükist jääb alles vaid mõnekümne nanomeetri paksune lõik. Lamelli all on näha ioonkiire poolt vaskalusesse lõigatud vaod. Kogu protsess ühe taolise lamelli valmistamiseks võtab keskmiselt aega 6-8 tundi.

Antud proovi näol on tegemist ränialusega, millele on sadestatud titaannitriidi elektrood, selle peale hafniumdioksiidi dielektrik-kiht ning sellele omakorda titaanist teine elektrood. Ioonkiirega proovi pealmiste kihtide kahjustamise vältimiseks on kõige peale sadestatud kiht plaatina. Kõiki sadestatud kihte pole antud pildil võimalik näha, kuna nende paksused on kohati vaid 15 nm. Nende vaatlemiseks ja karakteriseerimiseks ongi vajalik proovide uurimine läbivalgustavad elektronmikroskoobi abil. Foto on tehtud kasutades skaneerivat elektronmikroskoopi Tartu Ülikooli kiletehnoloogia laboris.
English: Image of a sample being prepared for viewing with a transmission electron microscope. Image taken with a scanning electron microscope.
Date
Source Own work
Author Markus Otsus

Licensing[edit]

I, the copyright holder of this work, hereby publish it under the following license:
w:en:Creative Commons
attribution
This file is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International license.
You are free:
  • to share – to copy, distribute and transmit the work
  • to remix – to adapt the work
Under the following conditions:
  • attribution – You must give appropriate credit, provide a link to the license, and indicate if changes were made. You may do so in any reasonable manner, but not in any way that suggests the licensor endorses you or your use.


File history

Click on a date/time to view the file as it appeared at that time.

Date/TimeThumbnailDimensionsUserComment
current11:40, 13 December 2021Thumbnail for version as of 11:40, 13 December 20211,024 × 883 (236 KB)M.Otsus (talk | contribs)Uploaded own work with UploadWizard

File usage on other wikis

The following other wikis use this file:

Metadata