File:AFMimageRoughGlass20x20.png

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AFMimageRoughGlass20x20.png （401 × 326 像素，檔案大小：187 KB，MIME 類型：image/png）

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Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM used was the Veeco di CP-II, scanned in contact mode.

Constructed at the Nanorobotics Laboratory at Carnegie Mellon University (http://nanolab.me.cmu.edu).
日期
來源 http://en.wikipedia.org/w/index.php?title=File:AFMimageRoughGlass20x20.png&oldid=78162444
作者 Chych
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目前2009年2月19日 (四) 17:43於 2009年2月19日 (四) 17:43 版本的縮圖401 × 326（187 KB）Linforest（對話 | 貢獻）{{Information |Description=Atomic force microscope topographical scan of a glass surface. The micro and nano-scale features of the glass can be observed, portraying the roughness of the material. The image space is (x,y,z) = (20um x 20um x 420nm). The AFM

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