File:Cross section of passive film of stainless steel.webp
Перейти к навигации
Перейти к поиску
Размер этого PNG-превью для исходного WEBP-файла: 615 × 599 пкс. Другие разрешения: 246 × 240 пкс | 493 × 480 пкс | 741 × 722 пкс.
Исходный файл (741 × 722 пкс, размер файла: 80 КБ, MIME-тип: image/webp)
Краткие подписи
Краткие подписи
Добавьте однострочное описание того, что собой представляет этот файл
Краткое описание[править]
| Описание |
English: Electron microscope image of cross-section of passive film of SUS304 stainless steel. The passive film situated between the substrate and the platinum layer. The image was obtained by Field Emission Scanning Electron Microscope (JEM-3000F, JEOL Ltd.). The detail can be found on the source. |
| Дата | |
| Источник | Wang, R., Li, Y., Xiao, T. et al. Using Atomic Force Microscopy to Measure Thickness of Passive Film on Stainless Steel Immersed in Aqueous Solution. Sci Rep 9, 13094 (2019). https://doi.org/10.1038/s41598-019-49747-0 (Figure 2 (a)) |
| Автор | Rongguang Wang, Yunhui Li, Tian Xiao, Li Cong, Yunhan Ling, Zhaoxia Lu, Chiharu Fukushima, Isao Tsuchitori & Mohammed Bazzaoui. (Cropped by the uploader) |
Лицензирование[править]
Этот файл доступен по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International
- Вы можете свободно:
- делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
- создавать производные – переделывать данное произведение
- При соблюдении следующих условий:
- атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
История файла
Нажмите на дату/время, чтобы увидеть версию файла от того времени.
| Дата/время | Миниатюра | Размеры | Участник | Примечание | |
|---|---|---|---|---|---|
| текущий | 14:26, 12 июня 2020 | | 741 × 722 (80 КБ) | Yapparina (обсуждение | вклад) | Uploaded a work by Rongguang Wang, Yunhui Li, Tian Xiao, Li Cong, Yunhan Ling, Zhaoxia Lu, Chiharu Fukushima, Isao Tsuchitori & Mohammed Bazzaoui (cropped by the uploader) from Wang, R., Li, Y., Xiao, T. et al. Using Atomic Force Microscopy to Measure Thickness of Passive Film on Stainless Steel Immersed in Aqueous Solution. Sci Rep 9, 13094 (2019). https://doi.org/10.1038/s41598-019-49747-0 with UploadWizard |
Вы не можете перезаписать этот файл.
Использование файла
Нет страниц, использующих этот файл.
Глобальное использование файла
Данный файл используется в следующих вики:
- Использование в ja.wikipedia.org
