File:Graphite ambient STM.jpg

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Graphite_ambient_STM.jpg ‎（457 × 353 像素，檔案大小：71 KB，MIME 類型：image/jpeg）

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摘要[編輯]

描述
Deutsch: Rastertunnelmikroskopische Aufnahme einer Graphit-Oberfläche, gemessen bei Umgebungsbedingungen (Raumtemperatur, Luft). Zu sehen sind diejenigen Oberflächenatome, die kein unmittelbares Nachbaratom in der nächst unteren Graphitschicht besitzen. Gemessen in Sektion Kristallographie, Dept. Geo/Umwelt, LMU München.
English: Scanning Tunneling Microscopy image of graphite, aquired under ambient conditions. Measured at the Dept. for Earth and Environmental Sciences, LMU and Center for NanoScience (CeNS), Munich.
日期
來源 自己的作品
作者 Frank Trixler, Ludwig-Maximilians-Universität München (LMU); adapted from LMU/CeNS: Organic Semiconductor Group
授權許可
(重用此檔案)		 gemeinfrei (public domain)

授權條款[編輯]

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目前2007年7月13日 (五) 20:44於 2007年7月13日 (五) 20:44 版本的縮圖457 × 353（71 KB）Nanotrix（對話 | 貢獻）{{Information |Description=Rastertunnelmikroskopische Aufnahme einer Graphit-Oberfläche, aufgenommen bei Umgebungsbedingungen (Raumtemperatur, Luft. (Scanning Tunneling Microscopy image of graphite, aquired under ambient conditions). |Source=own work |Da

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