File:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x 2.png
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Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x_2.png (768 × 576 像素,檔案大小:574 KB,MIME 類型:image/png)
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描述Silicon dislocation orientation 111 mag 500x 2.png |
Title: Dislocation in Si crystal, orientation 111
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日期 | 2005年9月13日 (原始上傳日期) |
來源 | 无法识别来源。根据版权声明推断为其自己的作品。 |
作者 | 无法识别作者。根据版权声明推断作者为Twisp。 |
Public domainPublic domainfalsefalse |
![]() |
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日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 用戶 | 備註 | |
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目前 | 2005年9月13日 (二) 00:17 | ![]() | 768 × 576(574 KB) | Twisp(對話 | 貢獻) | * Title: Dislocation in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocation in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of the dislocation. * Auth |
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