File:Wafer die's yield model (10-20-40mm) - Version 2 - DE.png
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Beschreibung
[Bearbeiten]BeschreibungWafer die's yield model (10-20-40mm) - Version 2 - DE.png |
English: 3 models for die's yield on a 300mm wafer. Those are different only die size.
1(Top):10mmx10mm 2(Middle):20mmx20mm 3(Bottom):40mmx40mm Each yields are 94.2%/75.7%/35.7% by using same damaged spots(red dot). Smaller die size can minimize the bad dies impact which shown by yellow. If process scale could shrink from 40mm to 10mm, the linear size ratio and area ratio would be 4:1 and 16:1, but Good die count will be 10:620 on those models. Deutsch: Drei Beispiele für die Änderung der Ausbeute auf einem 300-mm-Wafer in Abhängigkeit von der Die-Größe (oben: 10 mm × 10 mm; mitte: 20 mm × 20 mm; unten: 40 mm × 40 mm). Bei gleicher Defektanzahl (roter Punkt) verringert sich die Anzahl der defekten Chips (gelb) und es ergeben sich Ausbeuten von 94,2 %, 75,7 % bzw. 35,7 %. |
Datum | (UTC) |
Quelle | |
Urheber |
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Dieses Bild wurde digital nachbearbeitet. Folgende Änderungen wurden vorgenommen: translation, new arrangement. Das Originalbild kann hier eingesehen werden: Wafer die's yield model (10-20-40mm).PNG: . Bearbeitet von Cepheiden.
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Ursprüngliches Datei-Logbuch
[Bearbeiten]This image is a derivative work of the following images:
- File:Wafer_die's_yield_model_(10-20-40mm).PNG licensed with Cc-by-sa-3.0,2.5,2.0,1.0, GFDL
- 2011-04-18T10:06:07Z Shigeru23 1000x2500 (224008 Bytes) {{Information |Description ={{en|1=3 models for die's yield on a 300mm wafer. Those are different only die size.1(Top):10mmx10mm 2(Middle):20mmx20mm 3(Bottom):40mmx40mmEach yields are 94.2%/75.7%/35.7% by using same damage
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aktuell | 11:53, 27. Dez. 2011 | 3.000 × 1.000 (164 KB) | Cepheiden (Diskussion | Beiträge) | == {{int:filedesc}} == {{Information |Description={{en|1=3 models for die's yield on a 300mm wafer. Those are different only die size.<br />1(Top):10mmx10mm 2(Middle):20mmx20mm 3(Bottom):40mmx40mm<br />Each yields are 94.2%/75.7%/35.7% by using same damag |
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