「File:AFMsetup.jpg」の変更履歴

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  • 最新 14:102006年11月21日 (火) 14:10KristianMolhave トーク 投稿記録 659バイト +659 *Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made