File:Illustration of C-V measurement.gif
出典:ウィキメディア・コモンズ (Wikimedia Commons)
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Illustration_of_C-V_measurement.gif (322 × 308 ピクセル、ファイルサイズ: 93キロバイト、MIME タイプ: image/gif、ループします、18 フレーム、5.4秒)
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概要
[編集]解説Illustration of C-V measurement.gif |
English: C-V measurements can reveal oxide thickness, oxide charges, contamination from mobile ions, and interface trap density in wafer processes. In this image the C-V profile for a bulk p-type substrate MOSCAP with different oxide thickness is shown. The blue curve shown refers to a high frequency C-V profile while the red curve refers to low frequency C-V profile. MOS capacitance is independent of all the frequencies in the accumulation and depletion region. This is because it is here that the total charge is governed by majority carriers. In the inversion region the charge is governed by minority carriers, which forms the inversion layer. Due to finite minority carrier generation time, total charge is not able to follow the gate bias at higher frequencies, which can lead to differences in C-V profiles. Also worth noting here is the shift in threshold voltage with different oxide thickness. |
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原典 | Image:https://nanohub.org/resources/8818 ; Tool link: http://nanohub.org/resources/451 | ||
作者 | Saumitra R Mehrotra & Gerhard Klimeck | ||
許可 (ファイルの再利用) |
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ライセンス
[編集]![w:ja:クリエイティブ・コモンズ](https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/7/79/CC_some_rights_reserved.svg/90px-CC_some_rights_reserved.svg.png)
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日付と時刻 | サムネイル | 寸法 | 利用者 | コメント | |
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現在の版 | 2010年5月17日 (月) 19:26 | ![]() | 322 × 308 (93キロバイト) | Beatnik8983 (トーク | 投稿記録) | {{Information |Description={{en|1=C-V measurements can reveal oxide thickness, oxide charges, contamination from mobile ions, and interface trap density in wafer processes. In this image the C-V profile for a bulk p-type substrate MOSCAP with different ox |
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