File:Megasims Genesis D2008 0416 D108 1000.jpg
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Description[modifier]
| Description |
Français : Le spectromètre de masse SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry ) est un des instruments utilisés pour analyser les atomes de vent solaire piégé dans les collecteurs de la sonde spatiale Genesis English: Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)e is one of the instruments used for the characterization of the atoms of solar wind in the collectors of Genesis |
| Date | |
| Source | http://genesismission.jpl.nasa.gov/gm2/images/gallery/megaSIMS/index.htm |
| Auteur | NASA |
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| Date et heure | Vignette | Dimensions | Utilisateur | Commentaire | |
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| actuel | 10 octobre 2013 à 21:22 | | 1 000 × 739 (642 kio) | Pline (d | contributions) | User created page with UploadWizard |
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