File:Landen, John – The residual analysis, 1764 – BEIC 722288.jpg
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Didascalie
Dettagli
[modifica]The residual analysis | |||||||||||||||||||||||
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Autore |
John Landen |
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Titolo |
The residual analysis |
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Casa editrice |
John Landen |
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Descrizione |
Italiano: Frontespizio |
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Lingua | inglese | ||||||||||||||||||||||
Data di pubblicazione |
1764 publication_date QS:P577,+1764-00-00T00:00:00Z/9 |
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Collezione |
institution QS:P195,Q3639582 |
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Luogo di pubblicazione | London | ||||||||||||||||||||||
Fonte |
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Metadati
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Autore | Zeutschel Omniscan 11 |
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Orientamento | Normale |
Risoluzione orizzontale | 96 punti per pollice (dpi) |
Risoluzione verticale | 96 punti per pollice (dpi) |
Software | Adobe Photoshop CS Windows |
Data e ora di modifica del file | 12:18, 19 nov 2008 |
Spazio dei colori | Non calibrato |
Larghezza immagine | 805 px |
Altezza immagine | 1 056 px |
Data e ora di digitalizzazione | 13:18, 19 nov 2008 |
Data in cui i metadata sono stati modificati l'ultima volta | 13:18, 19 nov 2008 |
Versione IIM | 2 |