Category:Semiconductors
Перейти до навігації
Перейти до пошуку
Deutsch: Halbleiter
· English: Semiconductor
· Français : Semi-conducteur
· Nederlands: Halfgeleider
· матеріал, який за своєю питомою провідністю посідає проміжне місце між провідниками і діелектриками | |||||
Завантажити медіафайл | |||||
Є підкласом | |||||
---|---|---|---|---|---|
Частина від |
| ||||
Складники |
| ||||
| |||||
English: Semiconductors are materials whose electronic properties can be controlled by adding small amounts of impurities to them.
Підкатегорії
Показано 26 підкатегорій із 26.
*
A
B
- Semiconductor business (10 F)
C
- Semiconductor curve tracer (5 F)
D
- Semiconductor layer diagrams (77 F)
G
H
- Haynes–Shockley experiment (1 F)
- High density integration (7 F)
I
P
S
T
Файли в категорії «Semiconductors»
Показано 200 файлів цієї категорії (із 204).
(попередня сторінка) (наступна сторінка)-
16321 RCA semiconductor.jpg 2278 × 2505; 513 КБ
-
16323 RCA semiconductor.jpg 2515 × 2089; 473 КБ
-
17413A RCA semiconductor.jpg 2294 × 1920; 398 КБ
-
18pml015 clock-chip-with-coffee-bean 2mb.jpg 1481 × 1204; 116 КБ
-
28 nm pitch aggressive multipatterning.png 869 × 552; 7 КБ
-
29йцуке.JPG 276 × 172; 4 КБ
-
2D device.PNG 936 × 609; 17 КБ
-
3D NAND minimum cost example.png 704 × 361; 10 КБ
-
3D NASA 1.jpg 526 × 403; 38 КБ
-
3D NASA 2.jpg 539 × 464; 43 КБ
-
3D NASA 3.jpg 525 × 411; 35 КБ
-
3DS die stacking concept model (DE).png 1048 × 378; 27 КБ
-
3DS die stacking concept model.PNG 1000 × 440; 65 КБ
-
56 nm hp polarized image.PNG 567 × 337; 13 КБ
-
Absorption Edge in Semiconductors.png 5515 × 2231; 379 КБ
-
Afmfig3.jpg 303 × 265; 22 КБ
-
Afmpiezofig1.jpg 353 × 380; 15 КБ
-
Afvlakcondensator.png 406 × 100; 508 байтів
-
Aldalox.jpg 1346 × 1045; 298 КБ
-
AM band NPN Audion.gif 284 × 232; 5 КБ
-
Analyse edx.svg 328 × 372; 17 КБ
-
ARTTS-Kamera.JPG 2012 × 2592; 981 КБ
-
Asdfffff gg.jpg 257 × 175; 18 КБ
-
Aufbau CMOS-Chip 2000er.svg 550 × 810; 84 КБ
-
B-ad-bcbprocessflow.png 635 × 850; 27 КБ
-
B-ad-crosssectionbcb.png 3476 × 2805; 1,45 МБ
-
B-ad-semphotoofsu8.png 2546 × 1995; 796 КБ
-
B-e-crosssectionsemofbondinginterface.png 1694 × 1153; 1,12 МБ
-
B-e-ultrasonicimage.png 227 × 230; 56 КБ
-
B-e-ultrasonicimageofblankeutecticwafer.png 373 × 379; 94 КБ
-
B-gf-crosssectionsembosch.png 1511 × 1182; 262 КБ
-
B-gf-crosssectionsemizm.png 1501 × 1164; 285 КБ
-
B-tc-tisibondinginterface.png 1781 × 1388; 250 КБ
-
Backring stress 01.JPG 313 × 409; 10 КБ
-
Beyond CMOS IRDS.jpg 405 × 248; 27 КБ
-
C-tlm fit.png 810 × 626; 37 КБ
-
Canti lever fig 01.JPG 475 × 413; 12 КБ
-
Canti lever type.jpg 396 × 219; 12 КБ
-
Caratteristica.diodo.ideale.png 438 × 200; 4 КБ
-
CdSeNanoplatelets.jpg 2362 × 2584; 679 КБ
-
ChipScaleClock2 HR.jpg 1465 × 1449; 1,29 МБ
-
Clapp Osz JFET Drain.gif 258 × 192; 4 КБ
-
Cmos-chip structure in 2000s (en).svg 550 × 810; 138 КБ
-
Cmut.jpg 1231 × 297; 26 КБ
-
Comparacion tension.png 453 × 350; 33 КБ
-
Comparación de distintos semiconductores.png 347 × 285; 30 КБ
-
Contactvsnon.jpg 1181 × 500; 147 КБ
-
Cross-section of MOSFET in IC.png 1173 × 1574; 258 КБ
-
Ctlm individiual measurements.png 385 × 327; 20 КБ
-
Cu vaheühendused ja madal-k dielektrik nende vahel.png 566 × 754; 381 КБ
-
Dc hoogfrequent.png 377 × 149; 908 байтів
-
Deep and Shallow SR profiles portrait.jpg 3600 × 1915; 240 КБ
-
Depletion-load NMOS logic (NOT).png 503 × 639; 13 КБ
-
Depletion-Region.png 396 × 201; 46 КБ
-
Diagram of a shockley diode.png 640 × 183; 14 КБ
-
Dimensioni minime Moore.jpg 380 × 289; 10 КБ
-
Diode-water-model.svg 594 × 399; 39 КБ
-
DUV vs EUV line edge variability.png 1126 × 236; 55 КБ
-
Early LED Patents.png 1742 × 625; 407 КБ
-
Electron Transport under Multiple Trapping and Release.png 3997 × 2294; 144 КБ
-
Electronic-collection hg.jpg 4657 × 3118; 3,02 МБ
-
Energy diagram of a LET.jpg 826 × 1065; 137 КБ
-
Energy-level diagram in a molecular semiconductor.tif 801 × 970; 27 КБ
-
Enhancement-load NMOS logic (NOT).png 498 × 631; 13 КБ
-
Ersatzschema thyristortetrode.png 247 × 156; 1 КБ
-
ESS 2 B.jpg 601 × 441; 87 КБ
-
EUV 2D edge stochastic variability.png 564 × 274; 272 КБ
-
EUV contact-to-contact area variation.png 767 × 481; 49 КБ
-
EUV stochastic EPE.png 559 × 288; 17 КБ
-
Evolution of Photoconductance in TRMC Experiment.png 6545 × 4977; 560 КБ
-
Exotic semiconductors - Deutsches Museum - Munich.jpg 2304 × 3072; 3,82 МБ
-
FAMOS esq.png 1007 × 767; 24 КБ
-
FET cross section.png 450 × 389; 12 КБ
-
Fig1a.b.c.jpg 592 × 192; 24 КБ
-
Fotodiode.png 1085 × 908; 11 КБ
-
Four possible kinds of active electronic devices.tif 1831 × 1004; 450 КБ
-
FOWLP type.png 1874 × 1412; 181 КБ
-
Fram-ferroe-electric-capacitor.png 483 × 184; 23 КБ
-
FRAM-in-magnetic-field.png 695 × 553; 32 КБ
-
Gap silicio.jpg 812 × 250; 13 КБ
-
Grenzlastintegral.png 750 × 963; 237 КБ
-
Halbleitermaterialien aus DAHQ.svg 585 × 91; 50 КБ
-
Halbleiterspeicher-klassifizierung.svg 640 × 165; 76 КБ
-
High Bandwidth Memory schematic (zh-CN).svg 512 × 288; 29 КБ
-
High Bandwidth Memory schematic.svg 960 × 540; 47 КБ
-
Hiroshi Amano.jpg 1024 × 683; 65 КБ
-
ILD(2).jpg 218 × 185; 29 КБ
-
INTERRUPTOR UNILATERAL DE SILICIO 3-3.jpg 1816 × 676; 210 КБ
-
INTERRUPTOR UNILATERAL DE SILICIO 3-4.jpg 1012 × 847; 107 КБ
-
InvenSense NasiriFabrication WithText.png 448 × 246; 58 КБ
-
Kishore.png 840 × 861; 310 КБ
-
Krysztalek 0211.jpg 718 × 1311; 231 КБ
-
LED light emission cones from 2D plane emission zone.png 2048 × 1840; 1,2 МБ
-
Linear enhancement-load NMOS logic (NOT).png 527 × 653; 16 КБ
-
Mace mechanism.png 1883 × 947; 118 КБ
-
Mace mechanism.svg 1300 × 650; 11 КБ
-
Magnetic Semiconductor (5888009339).jpg 926 × 685; 415 КБ
-
MBshift for wiki.jpg 873 × 405; 39 КБ
-
Mediumwave FET Audion.gif 313 × 224; 6 КБ
-
Metal Oxide TFT Cross Section.png 1440 × 1020; 47 КБ
-
MIOS esq.png 1007 × 767; 22 КБ
-
Miroirs de Bragg.jpg 551 × 425; 17 КБ
-
Mobility Edge.png 3191 × 1934; 107 КБ
-
Moores law (1970-2011).PNG 760 × 710; 99 КБ
-
MOSAID 1M DRAM report.jpg 1458 × 734; 612 КБ
-
Mosfet iamion.GIF 318 × 355; 3 КБ
-
Mounted wafer.jpg 320 × 270; 42 КБ
-
Multi point 01.JPG 341 × 320; 12 КБ
-
NvSRAM-SONOS-technology.png 840 × 569; 78 КБ
-
OnSemi Micro8.wrl.stl 5120 × 2880; 69 КБ
-
OrcaSemi OS1000.webp 690 × 607; 40 КБ
-
P300J Wafer Probe Station.tif 3264 × 2448; 35,82 МБ
-
Pcafmassemb.jpg 255 × 270; 21 КБ
-
PCM-cell.jpg 794 × 441; 40 КБ
-
Peltz oscillator pnp.png 214 × 170; 3 КБ
-
Periodic table metalloids.jpg 4500 × 1396; 953 КБ
-
Pixel ginz pn II.jpg 572 × 310; 17 КБ
-
Pixel ginz pn.jpg 662 × 234; 18 КБ
-
Planaarne wikile.png 1000 × 750; 26 КБ
-
Planaarne wikile1.png 1000 × 750; 31 КБ
-
PMD Image GreyScale.jpg 337 × 264; 10 КБ
-
PMD Imager.jpg 1582 × 1040; 179 КБ
-
Pn Junction Diffusion and Drift-tr.svg 375 × 250; 19 КБ
-
Polythiophenes fluorescence NMR tube.jpg 640 × 480; 66 КБ
-
Predeposizione.jpg 589 × 250; 16 КБ
-
President Biden Joins the Virtual CEO Summit on Semiconductor and Supply Chain Resilience.webm 5хв 30с, 1920×1080; 240,87 МБ
-
Principe FIB-en.svg 833 × 471; 4 КБ
-
Principe FIB-ru.svg 833 × 471; 4 КБ
-
Principe FIB.jpg 411 × 289; 18 КБ
-
Probecard 02.jpg 672 × 1031; 101 КБ
-
Psychedelic Photovoltaic Cell.jpg 1458 × 1091; 309 КБ
-
Pulse-compression-NLTL-chip.jpg 600 × 470; 59 КБ
-
PXE1.jpg 2749 × 3024; 2,04 МБ
-
RadarGraphic.jpg 4032 × 3024; 327 КБ
-
Rochester Electronics Map.jpeg 5334 × 3501; 6,1 МБ
-
Room temperature electrical resistivity of various materials.jpg 1280 × 595; 104 КБ
-
S-MOS Systems ASIC SLA6140.jpg 2409 × 2445; 7,17 МБ
-
SAMOS esq.png 1007 × 767; 25 КБ
-
Saturated enhancement-load NMOS logic (NOT).png 498 × 631; 13 КБ
-
Seiler Osz npn Base.gif 238 × 227; 5 КБ
-
Semiconductor outlines.jpg 648 × 739; 201 КБ
-
Semiconductor shipment chart 1985-2007.PNG 1370 × 450; 93 КБ
-
Semiconductor shipment chart 1985-2007.svg 880 × 300; 37 КБ
-
Semiconductor-1.jpg 400 × 236; 20 КБ
-
Semiconductor-conductivity.jpg 1663 × 1796; 426 КБ
-
SemiconductorRoadmap.PNG 1150 × 787; 157 КБ
-
Semiconductors (way of working).jpg 720 × 840; 79 КБ
-
Semiconductors dspositives.png 590 × 212; 87 КБ
-
Semiconductors explanation.JPG 730 × 356; 61 КБ
-
Semiconductors Icon.svg 48 × 48; 16 КБ
-
SH323SC semiconductor.jpg 2647 × 2199; 507 КБ
-
ShockleyBldg (cropped).jpg 290 × 243; 56 КБ
-
ShockleyBldg.jpg 481 × 648; 103 КБ
-
ShockleyVacant.jpg 1200 × 800; 280 КБ
-
Silicon die.jpg 2304 × 1728; 206 КБ
-
Silky semiconductor.jpg 1388 × 1040; 340 КБ
-
Silver Migration short 1.jpg 700 × 622; 47 КБ
-
Silver Migration short 2.jpg 527 × 482; 19 КБ
-
Simsni.gif 640 × 294; 3 КБ
-
SMD Tipos de Tamanos.jpg 680 × 426; 86 КБ
-
Soft lithography proc 1.jpg 570 × 331; 23 КБ
-
Soft lithography proc 2.jpg 575 × 323; 22 КБ
-
Soft lithography proc 3.jpg 600 × 600; 37 КБ
-
Soft lithography proc 3.svg 545 × 588; 8 КБ
-
Soft lithography proc1.svg 600 × 335; 3 КБ
-
Soft lithography proc2.svg 600 × 335; 4 КБ
-
Solargif1.gif 715 × 599; 77 КБ
-
Sonda scyntylacyjna.jpg 692 × 325; 22 КБ
-
Source-coupled oscillator.png 246 × 162; 4 КБ
-
SP1446 Motorola semiconductor.jpg 2051 × 2199; 422 КБ
-
ST3v3.2 bottom.jpg 3504 × 2336; 2,86 МБ
-
ST3v3.2 enclosure.jpg 2574 × 2336; 1,67 МБ
-
Stepper.gif 320 × 267; 77 КБ
-
Strati di nitruro ossido e silicio.jpg 530 × 266; 11 КБ
-
Structural periodicity of semiconductors.tif 2546 × 717; 223 КБ
-
Structure of Sb2Se3.jpg 2978 × 1849; 587 КБ
-
Sus controlando SCR.jpg 1576 × 888; 106 КБ
-
T484 semiconductor.jpg 2663 × 1909; 419 КБ
-
Test cell 01.JPG 1058 × 488; 55 КБ
-
The structure of SBQWRTT.tif 1877 × 2191; 13 КБ
-
Time Resolved Microwave Conductivity System.png 2234 × 1513; 99 КБ
-
Transistor de aleación - Alloy pnp.png 1007 × 767; 89 КБ
-
TrioScan1a.jpg 582 × 202; 24 КБ
-
TrioScan4a.jpg 615 × 290; 45 КБ
-
Tungsten carbide.jpg 1200 × 500; 96 КБ
-
Vackar-oscillator.gif 304 × 143; 4 КБ
-
Vayyar.jpg 2497 × 2350; 651 КБ
-
Vertical type.jpg 432 × 203; 12 КБ
-
Vg vs. source-drain conductance.jpg 321 × 292; 9 КБ
-
Virata timeline.jpg 821 × 422; 44 КБ
-
Wafer prober.jpg 1333 × 548; 59 КБ
-
Wafer300mm-LargeIC-testset.jpg 4320 × 3240; 3,38 МБ
-
Wien filter.jpg 300 × 302; 15 КБ
-
Wireless TSV (coils 1).PNG 400 × 760; 33 КБ
-
Wireless TSV (coils 2).PNG 500 × 650; 41 КБ
-
Wright.Etch.Fig2a.b.c.jpg 624 × 303; 31 КБ
-
Wright.Etch.Fig3a.b.c.jpg 627 × 246; 18 КБ
-
Wright.Etch.Fig4a.b.c.jpg 634 × 304; 46 КБ
-
Wytwarzanie elektretow.png 916 × 517; 29 КБ
-
XRL Currents.svg 655 × 665; 8 КБ