File:SPM overview.jpg
SPM_overview.jpg (703 × 440 пкс, размер файла: 74 КБ, MIME-тип: image/jpeg)
Краткие подписи
Краткие подписи
![]() |
Это изображение желательно воссоздать или аккуратно преобразовать в векторный формат SVG. Это даёт несколько преимуществ, прочитать о которых подробнее вы можете на странице Commons:Media for cleanup. Если вам уже сейчас доступна векторная версия данного изображения, загрузите её, пожалуйста, а затем замените этот шаблон на следующий: {{Vector version available|Имя загруженного файла.svg}}.
|
![]() | Это изображение (или все изображения в этой статье или категории) были загружены в формате JPEG. Однако, оно содержит информацию, которая могла бы храниться более рационально в формате PNG или SVG. Если у вас имеется такая возможность, пожалуйста, загрузите PNG- или SVG-версию этого изображения без артефактов сжатия, получив его из исходного материала не в формате JPEG, либо убрав существующие артефакты. После того, как это будет сделано, пожалуйста:
| ![]() |
Краткое описание
[править]Overview of the main types of Scannig Probe Microscope types:
Scanning tunneling microscope (STM) - using the tunneling current I between the outermost atom of a conducting probe within an atomic distance from a substrate to map out the sample topography and electrical properties.
Atomic force microscope (AFM) - using the van der Waals forces or contact forces between a tip and the sample to measure the sample topography or mechanical properties.
Scanning near-field optical microscope (SNOM) - using the scattered light through a sub-wavelenght aperture to form an image.
- Illustration by Kristian Molhave
- Please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use illustrations from it.
Лицензирование
[править]![w:ru:Creative Commons](https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/7/79/CC_some_rights_reserved.svg/90px-CC_some_rights_reserved.svg.png)
![атрибуция](https://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/1/11/Cc-by_new_white.svg/24px-Cc-by_new_white.svg.png)
- Вы можете свободно:
- делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
- создавать производные – переделывать данное произведение
- При соблюдении следующих условий:
- атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.
История файла
Нажмите на дату/время, чтобы увидеть версию файла от того времени.
Дата/время | Миниатюра | Размеры | Участник | Примечание | |
---|---|---|---|---|---|
текущий | 13:39, 17 ноября 2006 | ![]() | 703 × 440 (74 КБ) | KristianMolhave (обсуждение | вклад) | Overview of the main types of Scannig Probe Microscope types: *scanning tunneling microscope (STM) *Atomic force microscope (AFM) *Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM) *Illustration by [http://kristian.molhave.dk Kristian Molhave] *Please acknow |
Вы не можете перезаписать этот файл.
Использование файла
Следующая страница использует этот файл:
Глобальное использование файла
Данный файл используется в следующих вики:
- Использование в en.wikibooks.org
- Использование в nl.wikipedia.org
- Использование в pl.wikipedia.org
- Использование в ru.wikipedia.org
- Использование в uk.wikipedia.org
Метаданные
Файл содержит дополнительные данные, обычно добавляемые цифровыми камерами или сканерами. Если файл после создания редактировался, то некоторые параметры могут не соответствовать текущему изображению.
_error | 0 |
---|